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| 內容簡介： |
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本书较全面地介绍电路与电子系统的故障诊断方法，主要内容包括：数字电路、模拟电路、混合电路及微机系统的测试与故障诊断。本书还从实用的角度出发，讲解电路的维修技术，介绍当前热门的可测性设计技术。故障诊断的发展离不开测试技术的发展，本书最后还根据作者多年的科研和工程经验介绍网络化测试仪器的设计、面向信号的自动测试系统知识等。本书提供电子课件。
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| 關於作者： |
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2011.08- 电子科技大学 仪器科学与技术 副教授。本科：嵌入式系统软件技术， 32学时 ，教授时间2005年，2006年，2007年。信息论导论，32学时 教授时间2005年，2006年，2010年。数据域测试及仪器 48学时 教授时间2006年，2007年，2008年，2009年。 电路与电子系统故障诊断 32学时 教授时间2011年，2012年，2014年。研究生课程如下嵌入式系统及软件 工程硕士 40学时 教授时间 2008年嵌入式操作系统及应用 工程硕士 40学时 教授时间 2008年。自动测试系统集成技术 工学硕士 40学时 教授时间 2013年。承担了研究生测试系统课程实验设计项目。
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| 目錄：
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目 录 绪论10.1 电路与电子系统的复杂性10.2 电路与电子系统故障诊断的必要性20.3 电路与电子系统测试的特点20.3.1 模拟电路与系统测试的特点20.3.2 数字电路与系统测试的特点30.3.3 混合电路测试的特点40.4 本书主要内容4本章参考文献6第1章 电子系统常用故障诊断方法71.1 常见故障诊断方法71.1.1 基于故障模型的诊断方法71.1.2 基于机器学习的诊断方法91.1.3 基于信号处理的方法101.1.4 基于解析模型的方法111.1.5 基于知识的故障诊断方法121.1.6 故障诊断方法的发展趋势141.2 基于故障树的故障诊断方法151.2.1 故障树分析法中的基本概念和 符号161.2.2 故障树的生成171.2.3 IEEE 1232的系统结构191.2.4 IEEE 1232模型文件191.2.5 IEEE 1232的推理机服务20本章参考文献21第2章 数字电路测试与故障诊断222.1 数字电路测试方法概述222.1.1 数字电路测试的基本概念222.1.2 数字电路测试的必要性和复杂性222.1.3 数字电路测试的发展242.2 数字电路故障模型与测试252.2.1 故障及故障模型252.2.2 故障测试272.2.3 故障冗余292.3 数字电路测试的基本任务302.3.1 测试矢量的产生302.3.2 测试响应的观测312.4 可测性与完备性322.4.1 可测性322.4.2 完备性322.5 复杂系统的分级测试332.5.1 子系统一级的测试332.5.2 微机系统的测试342.6 穷举测试法342.6.1 单输出无扇出电路352.6.2 带汇聚扇出的单输出电路382.6.3 各输出不依赖于全部输入的 多输出电路402.7 故障表方法402.7.1 固定式列表计划侦查412.7.2 固定计划定位422.7.3 适应性计划侦查和定位44习题47本章参考文献48第3章 组合电路与时序电路的故障诊断503.1 通路敏化503.1.1 敏化通路503.1.2 通路敏化法513.1.3 关于一维敏化的讨论533.1.4 多维敏化553.2 d算法563.2.1 d算法的基础知识563.2.2 d算法的基本步骤583.2.3 d算法举例583.2.4 扩展d算法633.3 布尔差分法683.3.1 布尔差分的基本概念683.3.2 布尔差分的特性693.3.3 求布尔差分的方法703.3.4 单故障的测试733.3.5 多重故障的测试763.4 故障字典783.5 时序逻辑电路的测试783.6 迭接电路法793.6.1 基本思想793.6.2 同步时序电路的组合迭接803.6.3 异步时序电路的组合迭接823.7 状态变迁检查法853.7.1 初始状态的设置853.7.2 状态的识别883.7.3 故障的测试883.7.4 区分序列的存在性89习题91第4章 模拟电路与混合信号的故障诊断924.1 模拟电路测试的复杂性924.1.1 模拟电路故障诊断概述924.1.2 模拟电路故障诊断技术的产生924.1.3 模拟电路故障特点934.1.4 故障诊断是网络理论的一个重要 分支934.2 模拟电路的故障模型944.3 模拟电路的故障诊断方法954.3.1 传统的故障诊断方法964.3.2 目前的故障诊断方法964.3.3 发展中的新故障测试方法974.4 故障字典法994.4.1 直流域中字典的建立994.4.2 频域中字典的建立1034.4.3 时域中字典的建立1074.4.4 故障的识别与分辨1104.5 混合信号测试概述1124.5.1 混合信号的发展1124.5.2 混合信号测试面临的挑战1124.5.3 混合信号的基本测试方法1134.5.4 混合信号测试的展望1144.6 数模模数转换器简介1154.6.1 数模转换器1154.6.2 模数转换器1184.7 混合信号测试总线1244.7.1 IEEE 1149.4电路结构1244.7.2 IEEE 1149.4测试方法1264.7.3 IEEE 1149.4标准指令126本章参考文献128第5章 电路板维修技术1305.1 维修前的准备1305.1.1 维修设备和工具1305.1.2 安全技术1305.1.3 感官训练1315.2 检修技术和方法1315.2.1 电路检修原则1315.2.2 具体电路问题及故障处理顺序1325.2.3 故障维修方法1325.2.4 小结145第6章 微机系统的故障诊断1476.1 存储器的测试1476.1.1 RAM中的故障类型1486.1.2 测试的若干原则性考虑1496.1.3 存储器测试方法1506.1.4 各种测试方法的比较1556.2 ROM的测试方法1566.3 微处理器的测试1576.3.1 ?P的算法产生测试1586.3.2 ?P功能性测试的一般方法1616.3.3 ?P功能性测试的系统图方法1666.4 利用被测系统的应用程序进行测试1686.4.1 基本概念1686.4.2 应用程序的模型化1686.4.3 关系图1706.4.4 测试的组织1726.4.5 通路测试的算法174习题177本章参考文献177第7章 可测性设计1787.1 可测性设计的概念1787.1.1 可靠性的定义1787.1.2 可靠性的主要参数指标1797.1.3 可测性设计的提出1797.2 可测性设计的发展1807.2.1 可测性的起源与发展过程1807.2.2 国内情况1817.2.3 关键的技术1827.2.4 国际标准1837.2.5 可测性设计发展趋势1857.3 可测性的测度1867.3.1 基本定义1867.3.2 标准单元的可测性分析1887.3.3 可控性和可观测性的计算1907.4 可测性设计方法1917.5 内建自测试设计1947.5.1 多位线性反馈移位寄存器1957.5.2 伪随机数发生器1977.5.3 特征分析器1987.5.4 内建自测试电路设计2007.6 边界扫描技术2027.6.1 JTAG边缘扫描可测性设计 的结构2037.6.2 工作方式2057.6.3 边缘扫描单元的级联2067.6.4 JTAG的指令2077.6.5 JTAG应用举例2087.6.6 JTAG的特点210本章参考文献210第8章 网络化测试仪器2128.1 分布式自动测试系统2128.1.1 分布式系统概述2128.1.2 分布式系统结构及其特点2138.1.3 分布式系统的优势2148.1.4 分布式自动测试系统2158.2 网络化测试仪器2178.2.1 网络化测试仪器概述2178.2.2 网络化测试仪器设计规范2178.3 LXI总线测试仪器2338.3.1 LXI总线的发展2338.3.2 LXI测试仪器的基本特性2338.3.3 LXI测试仪器的分类2358.3.4 LXI测试仪器的结构与电气 特性2388.3.5 LXI测试仪器的网络设置 与通信2428.3.6 LXI测试仪器的触发与同步2478.3.7 LXI测试仪器IVI驱动接口设计 方法250本章参考文献253第9章 面向信号的自动测试系统2549.1 自动测试系统概述及发展2549.1.1 自动测试系统的框架结构2549.1.2 自动测试系统的提出与发展2559.1.3 面向信号自动测试系统2579.1.4 面向信号的自动测试系统的 技术框架2589.2 IEEE 1641协议2609.2.1 IEEE 1641的提出2609.2.2 信号的层次结构2619.2.3 IEEE 1641标准的不足2639.3 ATML标准2639.3.1 XML标记语言2639.3.2 ATML标准2649.3.3 协议与自动测试系统各部分 的关系2659.4 IVI技术2669.4.1 可互换虚拟仪器技术2669.4.2 IVI技术2679.4.3 IVIsignal2699.5 自动测试系统应用2709.5.1 自动测试系统的软件结构2709.5.2 测试过程272本章参考文献272
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