《单板级JTAG测试技术》 - 王承,刘治国 - Meg Book Store - 香港.大書城

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『簡體書』单板级JTAG测试技术

書城自編碼： 2582087
分類：簡體書→大陸圖書→工業技術→電子/通信
作者：王承,刘治国
國際書號(ISBN)： 9787118099867
出版社：国防工业出版社
出版日期： 2015-05-01
版次： 1 印次： 1
頁數/字數： 205页
書度/開本：大32开

售價：HK$ 107.3

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內容簡介：

本书主要内容包括：基本概念、IEEE1149.X标准、单板级可测性设计、边界扫描测试应用、内建自测试技术、处理器测试技术、嵌入式测试技术。本书适合于相关领域工程技术人员阅读，也可作为高等院校电子信息、通信、测试测控、自动化等专业高年级学生或研究生的教学参考书。

目錄：

第1章测试的基本概念
1.1 数字电路测试
1.1.1 测试
1.1.2 测试分类
1.1.3 数字电路分类
1.2 故障及故障模型
1.3 算法
1.4 测试覆盖率和故障检出率
1.5 测试矢量
1.5.1 组合电路的测试矢量生成
1.5.2 时序电路的测试矢量生成
1.6 可测性
1.6.1 可控性
1.6.2 可观性
1.6.3 可测性设计方法
第2章单板级.ITAG测试
2.1 背景介绍
2.2 传统单板测试方法的困难
2.2.1 在线测试
2.2.2 光学测试
2.2.3 功能测试
2.3 生产制造应用
2.4 JTAG测试技术
2.5 单板级JTAG测试
……
第3章 IEEE1149.X标准
第4章单板级边界扫描可测性设计
第5章边界扫描测试技术应用
第6章串行矢量格式
第7章内建自测试技术
第8章片上仿真测试
第9章嵌入测试
参考文献

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