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| 內容簡介： |
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本书主要介绍空间辐射环境下互连线的串扰效应，内容涵盖了互连线的基础理论、寄生参数提取、等效模型建立、串扰机理分析、串扰效应对单粒子效应的影响、基于导纳规则的单粒子串扰建模分析、单粒子串扰的分布参数建模分析、碳纳米材料互连线的单粒子串扰效应等，给出了单粒子瞬态的等效电路及高阶互连系统的简化方法和思路。此外，对两线和多线互连系统的单粒子串扰的解析模型、温度对单粒子串扰的影响、串扰效应对电路可靠性的量化等进行了分析和讨论，给出了数字电路在单粒子翻转和单粒子瞬态下的软错误率评估方法。
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| 關於作者： |
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刘保军，空军工程大学兵器工程（军械）学士，空军工程大学电路与系统硕士，空军工程大学微电子学与固体电子学博士，长期从事电路与系统、微电子等的教学与研究工作，发表论文多篇，出版图书多部。
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| 目錄：
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第1章 绪论1
1.1 引言1
1.2 互连技术3
1.2.1 铝互连技术3
1.2.2 铜互连技术4
1.2.3 碳纳米材料互连技术5
1.3 单粒子瞬态效应11
1.3.1 辐射环境11
1.3.2 SET的产生与仿真12
1.3.3 SET的传播与捕获14
1.3.4 SET的加固15
1.4 互连线的时延、建模及串扰效应17
1.4.1 互连线的时延估算17
1.4.2 互连线的建模分析18
1.4.3 工艺波动的影响19
1.4.4 串扰效应20
1.5 本章小结22
参考文献22
第2章 互连线串扰的基本理论及模型29
2.1 互连线的基本理论29
2.1.1 互连线的电场和磁场29
2.1.2 互连线的分类30
2.1.3 互连线的特性阻抗31
2.1.4 导体损耗和介质损耗33
2.1.5 互连线的参数34
2.2 互连线电参数提取35
2.2.1 互连电阻35
2.2.2 互连电容36
2.2.3 互连电感38
2.3 串扰机理41
2.3.1 容性串扰42
2.3.2 感性串扰43
2.3.3 串扰感应的噪声43
2.4 互连线串扰的等效模型45
2.4.1 互连线的等效电路45
2.4.2 串扰的集总参数模型47
2.4.3 串扰的分布参数模型50
2.4.4 单粒子串扰的等效电路55
2.5 互连线串扰的影响因素56
2.6 本章小结57
参考文献57
第3章 串扰效应对单粒子效应的影响59
3.1 串扰效应对单粒子翻转的影响59
3.1.1 概率转移矩阵的基本理论59
3.1.2 可靠性评估方法及串扰的量化61
3.1.3 可靠性估计及分析61
3.1.4 串扰效应对电路可靠性的影响64
3.2 串扰效应对单粒子瞬态的影响67
3.2.1 SET电压的多状态系统67
3.2.2 通用产生函数68
3.2.3 可靠性评估算法69
3.2.4 串扰效应和遮掩对可靠性的影响70
3.2.5 可靠性评估及分析71
3.3 密勒效应和串扰效应对单粒子瞬态的影响73
3.3.1 不同布线结构的串扰效应73
3.3.2 密勒效应和串扰效应对SET影响的定性分析78
3.3.3 判别SET的新标准80
3.3.4 密勒效应和串扰效应对SET时延的影响81
3.4 本章小结83
参考文献83
第4章 基于导纳的单粒子串扰建模分析86
4.1 导纳的基本理论86
4.2 两线间单粒子串扰模型88
4.2.1 SET的等效电路88
4.2.2 模型的建立89
4.2.3 模型验证及分析93
4.3 多线间串扰效应建模分析98
4.3.1 多线串扰的等效电路98
4.3.2 三线串扰的估算101
4.3.3 多线串扰的预测103
4.3.4 验证与分析105
4.4 本章小结108
参考文献108
第5章 串扰效应下的单粒子瞬态传播特性及分布式模型111
5.1 SET的传播特性分析与建模111
5.1.1 SET的产生特性112
5.1.2 SET的不确定性量化129
5.1.3 逻辑遮掩效应133
5.1.4 电气遮掩效应134
5.1.5 窗口锁存遮掩效应136
5.2 SEC的分布参数等效模型138
5.3 基于线元解耦法的SEC估计模型139
5.4 基于矩阵运算的SEC估计模型142
5.5 串扰模型的验证分析145
5.5.1 模型的验证145
5.5.2 技术节点对SEC的影响146
5.6 本章小结148
参考文献148
第6章 碳纳米材料互连线的单粒子串扰效应153
6.1 碳纳米管互连线的等效RLC模型153
6.2 SEC的RLC电路156
6.2.1 SET的模拟156
6.2.2 两线间SEC等效电路157
6.2.3 三线间SEC等效电路158
6.3 两线间的SEC分析159
6.3.1 脉冲宽度和峰值电压159
6.3.2 潜在关联性分析162
6.4 温度对三线间SEC的影响163
6.4.1 温度对平均自由程的影响163
6.4.2 时延和频率分析164
6.4.3 铜互连线和SWCNT的SEC166
6.4.4 CNT参数对SEC的影响167
6.4.5 温度和技术节点对SEC的影响169
6.5 本章小结170
参考文献171
第7章 工艺波动下的单粒子串扰效应174
7.1 互连线工艺波动的来源及影响174
7.1.1 工艺波动的来源174
7.1.2 工艺波动的影响175
7.1.3 工艺波动的量化方法176
7.2 工艺波动对互连线电学特性的影响177
7.2.1 互连线的寄生电阻178
7.2.2 互连线的寄生电感179
7.2.3 互连线的寄生电容180
7.2.4 互连线的耦合电容181
7.2.5 互连线的耦合电感181
7.2.6 串扰效应182
7.3 工艺波动下工艺角的确定方法184
7.3.1 极差分析法184
7.3.2 SEC极限工艺角的分析185
7.3.3 SEC正交试验设计及极差分析186
7.3.4 方差分析及SEC极限工艺角188
7.4 单粒子串扰的极限工艺角分析194
7.4.1 电流幅值的影响195
7.4.2 技术节点的影响197
7.4.3 互连线长度的影响199
7.4.4 环境温度的影响206
7.4.5 相关性分析215
7.4.6 统计分析216
7.5 本章小结218
参考文献219
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