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『簡體書』双极器件辐射效应及加固技术

書城自編碼： 3752260
分類：簡體書→大陸圖書→教材→研究生/本科/专科教材
作者： 李兴冀
國際書號(ISBN)： 9787560344898
出版社： 哈尔滨工业大学出版社
出版日期： 2022-03-01

頁數/字數： /
書度/開本： 16开 釘裝： 平装

售價：HK$ 78.2

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內容簡介：
双极工艺器件作为基础电子元器件广泛应用于航天工程。在空间应用时会受到空间辐射损伤，导致性能退化，甚至失效，直接影响航天型号任务高可靠运行。本书总结了作者多年有关双极器件辐射效应方面的研究成果，论述了双极器件电离、位移、电离/位移协同辐射损伤效应的基本特征，器件工艺与结构对双极器件辐射效应影响机制等相关内容。
本书可供从事航天用电子元器件科研与生产的科技人员以及高等院校相关专业师生参考。
目錄：
第1章 半导体物理与器件基础
1.1概述
1.2平衡半导体
1.3载流子输运现象
1.4非平衡载流子
1.5双极晶体管基本原理
1.6双极晶体管类型
1.7双极晶体管电性能及缺陷分析测试方法
本章参考文献
第2章 空间带电粒子辐射环境表征
2.1概述
2.2太阳活动对空间带电粒子环境的影响
2.3地球辐射带粒子环境
2.4银河宇宙线粒子环境
2.5太阳宇宙线粒子环境
2.6近地轨道带电粒子能谱计算
2.7带电粒子辐射损伤能力判据
本章参考文献
第3章 双极器件辐射损伤效应
3.1电离辐射效应
3.2位移辐射效应
3.3双极器件位移缺陷表征及演化
3.4电离/位移协同效应
本章参考文献
第4章 工艺和结构对双极器件电离辐射效应影响
4.1不同工艺双极器件电离辐射效应
4.2不同结构双极器件电离辐射效应
本章参考文献
第5章 不同结构类型双极晶体管位移辐射效应研究
5.1不同结构双极晶体管电性能演化规律
5.2双极晶体管位移缺陷演化规律
5.3双极晶体管位移等效性研究
本章参考文献

 

 

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